テストエンジニアリング Test engineering
多種のLSIをパッケージ化することでテスト技術も多様化
テスト専門の技術が必要
LSIテスティングにおける最適なソリューションをご提供
LSIテスティングにおける様々な問題点を解決する
最適なソリューションを提供し、
短期間でお客様の利益向上に貢献致します。
対応業務
| ・設計評価、製品抜き取り試験 |
・量産用テスト仕様開発、テストPro.開発 |
| ・不良解析 |
・信頼性試験 |
| ・量産立上げ・相関作業 |
・異機種間テストPro.コンバージョン |
| ・既存テストProからのテスト仕様開発 |
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対応製品
| メモリ |
SDRAM、DDR、EDO、DRAM、RDRAM、SRAM、PSRAM、NOR-FLASH、NAND-FRASH |
| ロジック |
CPU、ASIC、MPU、DSP |
| アナログ |
ディスクリートデバイス、パワードライバー、アンプ、バッファー、
コンパレータ、AD/DA、LCD |
| オプトデバイス |
センサ、LED、フォトカプラ、レーザーダイオード |
| イメージャー |
CCD、CMOSイメージセンサー |
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対応テスター
| メモリテスタ |
ADVANTEST、YOKOGAWA、Hitachi DECO、Credence |
| ロジックテスタ |
AGILENT、TERADYNE、ADVANTEST、YOKOGAWA、LTX、IMS、
Hitachi DECO |
| ミックスドテスタ |
AGILENT、TERADYNE、YOKOGAWA |
| その他 |
Measurement Units、Generator Units、Analyzer Systems |
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